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Rohde & Schwarz ofrece su catálogo de productos para test precisos de AESA

Rohde & Schwarz ofrece su catálogo de productos para test precisos de AESA
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martes 13 de octubre de 2020, 11:58h
Con el objetivo de reducir la complejidad, los costes y los esfuerzos de los test de módulos de emisión y recepción, Rohde & Schwarz se concentra en soluciones de test y medida para maximizar el rendimiento de los diseños de radares de barrido electrónico activo tipo AESA con instrumentos de máxima precisión y la automatización de escenarios de test complejos. id:64011
Los radares de barrido electrónico activo (AESA) son un aspecto importante de la industria aeroespacial y de defensa a nivel global. El rendimiento de los sistemas radar de última generación tipo AESA depende enormemente del rendimiento de los distintos módulos de emisión y recepción (TRM) montados en las antenas. Rohde & Schwarz ofrece nuevas soluciones de test y medida para la validación del rendimiento de estos módulos, permitiendo así al cliente maximizar las capacidades de sus sistemas radar.

Los casos típicos de test de TRM pueden realizarse con un solo analizador de red de Rohde & Schwarz como solución «llave en mano», como por ejemplo el R&S ZNA. Si se precisa un rendimiento superior como el de la cifra de ruido pulsado, se añade a la configuración el analizador de espectro y señal R&S FSW. Si se combina con la rutina de calibración integrada se simplifica la configuración y se garantiza una precisión máxima y una alta repetibilidad. Los usuarios se benefician de procedimientos de test menos complejos, así como de un mínimo cableado.

La biblioteca de test de TRM R&S TS6 optimiza la velocidad de los instrumentos de Rohde & Schwarz al máximo y posibilita un cambio rápido del control. Gracias a los rápidos barridos de frecuencia y a las múltiples medidas dentro de un impulso, se reduce la cantidad de cambios de estado necesarios de los TRM y el tiempo total de test. Con la unidad de acondicionamiento de señales R&S ZVAX-TRM, todos los test se ejecutan automáticamente sin necesidad de interacción alguna, tampoco para el multiplexado de puerto.

La rutina de calibración de la biblioteca R&S TS6 es una característica especial que recoge todos los requisitos para calibrar los test y ejecuta una calibración precisa y optimizada. El soporte de unidades de calibración multipuerto permite la calibración eficiente de los dispositivos sometidos a prueba (DUT) con muchos puertos. Esta combinación de una configuración de test simplificada con un alto grado de automatización garantiza medidas fiables y reproducibles en una sola solución escalable. Ofrece una variedad de casos de uso, desde la prueba manual de componentes hasta la caracterización completa de módulos en desarrollo, así como la realización de pruebas de producción automatizadas.

Debido a que el tiempo es muy valioso, Rohde & Schwarz ha desarrollado soluciones que reducen el número de sistemas funcionando en paralelo durante la producción según su eficiencia. La biblioteca R&S TS6 junto con el sistema de test de radar R&S TS6710 ofrecen las mayores velocidades posibles para el test de TRM, además que permite cambiar rápidamente entre la medida y la programación del dispositivo. Si bien los sistemas de test de TRM heredados emplean horas para la caracterización completa de estos módulos, ahora se puede reducir este tiempo a solo unos pocos minutos.

Los parámetros de los diseños de TRM son específicos para cada radar y se consideran confidenciales. Cada TRM debe ser controlado por una interfaz, un protocolo y un sistema de disparo concretos para realizar los test. La biblioteca R&S TS6 tiene una interfaz de software abierto para el control del TRM, permitiendo así que toda la configuración se realice localmente. Esto permite que las adaptaciones y las optimizaciones se realicen más rápido en el emplazamiento. Una opción eficiente es la versátil plataforma R&S CompactTSVP que pone a disposición interfaces de control flexibles y rápidas, así como medidas digitales y analógicas. Esta configuración ofrece unos tiempos de test cortos sin necesidad de programación de conjuntos lógicos programables de campo (FPGA).
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